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产品介绍:X射线衍射仪
可测样品送样要求:粉末样品要求磨成320目的粒度;样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面,面积最好不小于10X10毫米,高度小于20毫米
主要技术指标:
测量精度:角度重现性±0.0001°;
测角仪半径≥200mm,测角圆直径可连续改变;
最小步长0.0001°;
角度范围(2θ):-110~168°;
最大扫描速度或最高定位速度:1500°/分;
温度范围:室温~900℃;
环境压力:1mbar-10bar;
最大输出:18KW;
稳定性:±0.01%;
管电压:20~60kV(1kV/1step);
管电流:10~300mA
仪器功能及附件:
小角衍射装置
仪器功能:
X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析,如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定(晶体结构分析)、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构,如:物相定性与定量分析,衍射谱的指标化及点阵参数。
应用范围:
对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说,X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析,大部分晶体物质的定量、半定量分析;晶体物质晶粒大小的计算;晶体物质结晶度的计算等。
使用范围:
金属材料:半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料;无机材料:陶瓷材料、磁性材料、催化剂、矿物、水泥、玻璃;复合材料:碳纤维、纤维大分子、工业废弃物;有机材料:医药品、工程塑料、各种树脂等。
该设备主要特点:体积小、重量轻、耗电少,能快速对样品进行校准和测试;依据德拜-谢乐几何原理,可获得高精度测试结果;衍射峰位置的测试精度±0.01度;采用工业平板计算机及可编程控制器对仪器进行控制和管理,能够通过摄像头看到样品的放置位置,对衍射数据进行实时采集和分析处理。